EDX آنالیز طیف‌سنجی پرتو ایکس پراکنده انرژی (EDS، EDX، EDXS یا XEDS)، که گاهی اوقات آنالیز پرتو ایکس پراکنده انرژی (EDXA یا EDAX) یا میکروآنالیز پرتو ایکس پراکنده انرژی (EDXMA) نامیده می‌شود، یک تکنیک تحلیلی است که برای تجزیه و تحلیل عنصری استفاده می‌شود. یا خصوصیات شیمیایی یک نمونه این متکی بر تعامل برخی از منابع تحریک اشعه ایکس و یک نمونه است. قابلیت های مشخصه آن تا حد زیادی به دلیل این اصل اساسی است که هر عنصر دارای یک ساختار اتمی منحصر به فرد است که اجازه می دهد مجموعه ای منحصر به فرد از قله ها در طیف گسیل الکترومغناطیسی خود (که اصل اصلی طیف سنجی است) باشد. موقعیت های اوج توسط قانون موزلی با دقت بسیار بهتر از وضوح تجربی یک ابزار معمولی EDX پیش بینی می شود. برای تحریک تابش پرتوهای X مشخصه از یک نمونه، پرتوی از الکترون ها به نمونه مورد مطالعه متمرکز می شود. در حالت استراحت، یک اتم درون نمونه حاوی الکترون های حالت پایه (یا تحریک نشده) در سطوح انرژی گسسته یا لایه های الکترونی متصل به هسته است. پرتو فرودی ممکن است یک الکترون را در یک پوسته داخلی تحریک کند و در حالی که یک حفره الکترونی در جایی که الکترون بود ایجاد می کند، آن را از پوسته بیرون می زند. سپس یک الکترون از یک لایه بیرونی با انرژی بالاتر، حفره را پر می کند و تفاوت انرژی بین پوسته پرانرژی بالاتر و لایه انرژی پایین تر ممکن است به شکل پرتو ایکس آزاد شود. تعداد و انرژی پرتوهای ایکس ساطع شده از یک نمونه را می توان با یک طیف سنج پراکنده انرژی اندازه گیری کرد. از آنجایی که انرژی اشعه ایکس مشخصه تفاوت انرژی بین دو پوسته و ساختار اتمی عنصر ساطع کننده است، EDS اجازه می دهد تا ترکیب عنصری نمونه اندازه گیری شود. تیم متخصص ما در اکسآنالیز آماده ارائه خدمات مشاوره، تفسیر، تحلیل و آنالیز در این زمینه است. فقط کافیست خدمت مورد نیاز خود را سفارش دهید تا کارشناسان ما در اسرع وقت با شما تماس بگیرند.
